解决方案

我们将进行检测、分析和预测。


开启走向工业 4.0 之旅

通过嵌入人类知识和在设备与流程中集成智能,使机器更智能,开启通向工业 4.0 之旅。首先在工程系统中集成智能,然后把集成智能扩展到整个企业。

自适应智能,智慧制造之选

在 BISTel,我们一直致力于运用在此领域的丰富专业知识技术来提高制造效率。我们将工厂数据转变为可行智能,用以抵御有损良率的事件,减轻制造风险和改进工程设计生产力与质量。如今,BISTel 已成长为设备工程设计与自动化解决方案的全球领军企业。我们助力客户成为制造精英,为其工程师提供所需工具,最大限度地提升工程设计生产力、改进质量并削减成本。BISTel 的设备工程系统(EES)是半导体制造行业的高端 EES 解决方案,它包含广泛的应用,能够从任何源头采集数据,最快速地检测和分类故障,防范影响良率的问题。我们世界一流的高级分析解决方案 eDataLyzer,能帮助工程师快速执行根本原因分析,在数小时内识别影响良率的问题,而无需像其他厂商的解决方案那样花费数周时间。

解决方案

我们将进行检测、分析和预测。

检测

荣膺大奖的市场领先实时故障检测

市场领先的实时故障检测,支援制造商全天候监控其设备和流程的性能,以便保障最佳性能,防止设备故障、小毛病和其它性能波动。因此,BISTel 的检测方案可为制造商提供市面上唯一可利用完整传感器追溯数据的实时监控与检测。这表示客户能透过不间断监控全部数据,迅速检测良率影响事件。

DFD

Next generation FDC solution using trace analytics

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EES

Comprehensive solution suite for monitoring, maintaining and optimizing your equipment

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解决方案

我们将进行检测、分析和预测。

分析

行业领先的分析功能,让一切尽在掌握之中

先进的 BISTel 分析平台,使工程师能迅速分析和识别影响良率的事件。
BISTel 数据分析套件具备支持各种客户需求的多种数据分析工具。工程师能使用任何工具访问所有来源的数据,同时无需忧虑兼容性,包括数据库或文件(结构化或非结构化)。行业领先的 BISTel 分析方案,能够在数小时和几分钟内迅速找到良率和其它性能问题,而不像别家方案需要耗费数天和几周才能查出根源,因此,工厂始终能以优化的效能运转。

eDataLyzer

Data analytic platform designed for advanced root cause analysis

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CM

Intelligent solution for Chamber performance comparison

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解决方案

我们将进行检测、分析和预测。

预测

基于 AI 的预测性分析和预防性维护,助您告别停机

保证无缝、无故障的生产环境,对于所有工业制造场所来说都是最需要优先考虑的事情。基于 AI 的新型 BISTel 预测解决方案,可以对关键设备和部件进行实时监控与故障检测,在问题出现前就消灭隐患。BISTel 预测解决方案使生产商得以实施基于条件的维护计划。凭借 BISTel 的预测功能,您可摆脱维护计划,仅在需要时进行设备维护。这要求对相关数据持续执行自动分析,为检测潜在损害、计划维护和在故障发生前就消除它们,助您一臂之力。这减少了停机时间,优化了工厂维护活动。

WQP

Fab-wide wafer quality assessment and reporting solution

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GrandView® APM

Asset Performance Management Solutions
For Industry 4.0

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通向工业 4.0 之路

通向工业 4.0 之路无法一夜之间筑就

通过嵌入人类经验学识和在设备与流程中集成智能,使机器更智能,开启通向工业 4.0 之旅。首先在工程系统中集成智能,然后把集成智能扩展到整个企业。

智慧制造之旅从此开启

我们启动了 BISTel 三年愿景规划:发布了新的自适应智能应用。这些应用能帮助工程师更好地管理和分析数据,
实时监控机器和设备的健康状况,优化流程,并以前所未有的速度更快地识别根本原因。

BISTel 提供具备检测、数据分析和预测性分析功能的综合性解决方案,可连接和优化全部工厂数据,确保工厂以最高效能运作,
实现能力可及的最高良率和工程设计生产力水平。

BISTel 为客户搭建向智慧制造和工业 4.0 转型的获奖平台。

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