制造数据分析器

分析

行业领先的良率和根本原因分析

高级数据分析功能,
让工程师高效识别影响良率的问题

实时分析生产数据和快速向下钻研找到问题根源的能力,使 BISTel 把竞争对手远远地甩在了身后。无论是执行重要的良率分析,还是优化晶片反应腔室的性能,迅速分析数据并将其转变为可行智能,都有利于制造商更高效地降低成本和运营。

BISTel 的高级数据采集功能,可从大量数据源头采集数据(包括大数据),然后将数据组织为统一结构,以供分析之用。工程师可从多个颇富新意的分析选项中进行选择,快速执行根本原因分析,并在数分钟或几小时内识别影响良率的问题,而不像别家方案需要数个星期之久。例如,它的创新性全面追溯晶片腔室匹配(CM)应用,藉由分析腔室性能波动,有助半导体客户优化一组腔室的性能,保障每个腔室都提供最高良率。

常见挑战

解决方案

因此,BISTel 提供市场领先的分析解决方案

eDataLyzer

eDataLyzer 应用快速查明影响良率的事件

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CM

反应腔室匹配(CM)应用,透过快速识别标准腔室,强效推升多个腔室的性能

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详细了解 BISTel 将您的数据转为可行智能的方法。

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