解决方案
Wafer Quality Predictor (WQP)

智能工厂级别的产品质量综合数据板

通过追溯传感器数据,评估每颗晶片

轻松集成到任何现有系统中

库存晶片质量的实时可视化

逐颗晶片评等,实现智能采样

仔细考察


指尖轻触,即刻了解库存晶片质量

借助评估传感器追溯数据,WQP 可为每颗库存晶片的质量评分。
交互式综合数据板可提供库存晶片质量摘要。

用例 01


直观向下钻研,直至找到根本原因

用例 02


数据驱动的智能采样

资源
Product Brochure BISTel Wafer Quality Predictor
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